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J-GLOBAL ID：202102268603215261   整理番号：21A1334286

最高放射OLEDディスプレイにおけるTFT信頼度に関するカプセル封じ構造の研究

A Study of Encapsulation Structure for TFT Reliability in Top Emission OLED Display

著者 (6件)： OH Jae Young (LG Display, Gangseo-gu, KOR) ,  NAM SeungHee (LG Display, Gangseo-gu, KOR) ,  PARK Kwon-Shik (LG Display, Gangseo-gu, KOR) ,  YOON SooYoung (LG Display, Gangseo-gu, KOR) ,  KANG InByeong (LG Display, Gangseo-gu, KOR) ,  JEONG Jae Kyeong (Hanyang Univ., Seoul, KOR)
資料名： Proceedings of the International Display Workshops (Web)  (Proceedings of the International Display Workshops (Web))
巻： 26th (CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.OLEDp1-7  発行年： 2019年11月26日 
JST資料番号： U2298A  ISSN： 1883-2490  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・高信頼度の性能を得るためにOLED用の多層無機堆積手法を開発。
・無機カプセル封じの多層構造を得るために,SiN_xとSiO₂を使い,単一の無機カプセル封じを使って,水素に対するブロック能力と水蒸気浸透を比較。
・無機多重構造のカプセル封じのブロッキング性能の良さを提示。

シソーラス用語： *薄膜トランジスタ ,  *発光ダイオード ,  信頼度 ,  *カプセル封じ ,  多層 ,  ブロッキング
準シソーラス用語： *TFT【トランジスタ】 ,  *OLED

分類 (1件)： 表示機器  (NC06030Q)

引用文献 (7件)：

• Youngho Kang,Byung Du Ahn,Ji Hun Song,Yeon Gon Mo,Ho-Hyun Nahm,Seungwu Han, and Jae Kyeong Jeong, “Hydrogen Bistability as the Origin of Photo-Bias-Thermal Instabilities in Amorphous Oxide Semiconductors”, Adv. Electronic Material.2015,1,1400006.
• P. E. Burrows, G. L. Graff, M. E. Gross, P. M. Martin, M. K. Shi, M. Hall, E. Mast,C. Bonham, W. Bennet, and M. B. Sullivan, “Ultra Barrier Flexible Substrates for Flat Panel Displays,” Displays, 22(2), 65 (2001).
• T. Ishibashi, J. Yamada, T. Hirano, Y. Iwase, Y. Sato, R. Nakagawa, M. Sekiya,T. Sasaoka, and Tetsuo Urabe, “Active Matrix Organic light Emitting Diode Display Based on Super Top Emission” Technology, Jpn. J. Appl. Phys., 45(5B), 4392 (2006).
• Y. G. Lee, Y. H. Choi, I. S. Kee, H. S. Shim, Y. W. Jin, S. Lee, K. H. Koh, and S. Lee, “Thin-film encapsulation of top-emission organic light-emitting devices with polyurea/Al2O3 hybrid multi-layers,” Organic Electronics 10(7), 1352 (2009).
• K. Azuma, S. Ueno, Y. Konishi, and K. Takahashi, “Transparent Silicon Nitride Films Prepared by Surface Wave Plasma Chemical Vapor Deposition under Low Temperature Conditions,” Thin Solid Films, 580, 111 (2015).

タイトルに関連する用語 (7件)： 放射 ,  OLED ,  ディスプレイ ,  TFT ,  信頼度 ,  カプセル封じ ,  研究