文献
J-GLOBAL ID:202102274950091722   整理番号:21A0150003

負性容量電界効果トランジスタにおける低ドレイン電流範囲内の急峻なサブ閾値スイングの起源【JST・京大機械翻訳】

Origin of Steep Subthreshold Swing Within the Low Drain Current Range in Negative Capacitance Field Effect Transistor
著者 (6件):
資料名:
巻: 2020  号: CSTIC  ページ: 1-3  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
負容量FET(NCFET)は,供給電圧V_DDの低減のために,従来のMOSFETよりも急峻なサブ閾値スイング(SS)を達成することができ,一方,多くの実験結果は,NCFETが,限られたドレイン電流範囲内でのみ急峻なSSを示すことを示した。本研究では,強誘電性(FE)のドメインスイッチング動力学のモデリングに基づいて,NCFETにおける急峻なSSに対応するドレイン電流範囲の物理的起源とパラメータの影響を調べた。より大きな残留分極は,より大きなドレイン電流範囲を有するより急峻なSSに有益であることが分かった。さらに,シミュレーション結果は,掃引速度とFEスイッチング時間の限られた窓内でのみ,ドレイン電流範囲がNCFETの急峻なスイッチングのために拡大できることを示した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る