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J-GLOBAL ID：202102276260464419   整理番号：21A0518542

高帯域幅,可変抵抗微分雑音温度測定【JST・京大機械翻訳】

High-bandwidth, variable-resistance differential noise thermometry

著者 (5件)： Talanov A. V. (Department of Physics, Harvard University, Cambridge, Massachusetts 02138, USA) ,  Waissman J. (Department of Physics, Harvard University, Cambridge, Massachusetts 02138, USA) ,  Taniguchi T. (International Center for Materials Nanoarchitectonics, National Institute for Materials Science, 1-1 Namiki, Tsukuba 305-0044, Japan) ,  Watanabe K. (Research Center for Functional Materials, National Institute for Materials Science, 1-1 Namiki, Tsukuba 305-0044, Japan) ,  Kim P. (Department of Physics, Harvard University, Cambridge, Massachusetts 02138, USA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 92  号： 1  ページ： 014904-014904-10  発行年： 2021年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高速データ収集のための高帯域幅の可変ソースインピーダンスを有するメソスコピックデバイスに適用できるJohnson雑音温度測定を開発した。差動雑音測定と2段インピーダンス整合を実行することにより,ゲート電圧と温度により調整した30Ω~100kΩの広い試料抵抗範囲を有する120MHz~250MHzの周波数範囲での雑音測定を実証した。所望の低雑音温度を維持するために,一定極低温で維持された高周波,単一終端低雑音増幅器を採用した。30秒の平均化で10Kのバックグラウンドで200mKの温度変調を測定する650μKまでの温度精度で温度計キャリブレーションを達成した。この微分雑音温度測定技術を用いて,広い抵抗範囲で金属および半導体領域にわたる二層グラフェン試料の熱伝導率を測定し,電気伝導率と比較した。Copyright 2021 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 温度計 ,  *温度測定 ,  *雑音 ,  電気伝導率 ,  熱伝導率 ,  半導体 ,  *雑音温度 ,  雑音測定 ,  HF【周波数】 ,  *微分 ,  極低温 ,  データ収集 ,  インピーダンス整合 ,  低雑音増幅器
準シソーラス用語： ゲート電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  雑音測定  (ND04030F) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高帯域幅 ,  微分 ,  雑音温度