Lin Yu-Chen について
Minghsin University of Science and Technology,Department Electronic Engineering,Hsinchu,Taiwan,30401 について
Zhan Kai-Chun について
Minghsin University of Science and Technology,Department Electronic Engineering,Hsinchu,Taiwan,30401 について
Zhang Ji-Min について
Minghsin University of Science and Technology,Department Electronic Engineering,Hsinchu,Taiwan,30401 について
Chen Jian-Ming について
Minghsin University of Science and Technology,Department Electronic Engineering,Hsinchu,Taiwan,30401 について
Chang Cheng-Hsun-Tony について
Minghsin University of Science and Technology,Department Electronic Engineering,Hsinchu,Taiwan,30401 について
Wang Shea-Jue について
National Taipei University of Technology,Department of Materials and Resources Engineering,Taipei,Taiwan,10608 について
Wang Mu-Chun について
Minghsin University of Science and Technology,Department Electronic Engineering,Hsinchu,Taiwan,30401 について
IEEE Conference Proceedings について
界面 について
接合 について
電流 について
熱応力 について
信頼性 について
漏れ電流 について
完全性 について
ゲート絶縁膜 について
絶縁破壊電圧 について
nMOSFET について
オフ状態 について
図形・画像処理一般 について
熱応力 について
nMOSFET について
完全性 について