Hong Jeong Beom について
Department of Semiconductor and Display Engineering, College of Information and Communication Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon 16410, Korea について
Lee Young Sik について
Department of Electrical and Computer Engineering, College of Information and Communication Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon 16410, Korea について
Kim Yong Wook について
Department of Electrical and Computer Engineering, College of Information and Communication Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon 16410, Korea について
Han Tae Hee について
Department of Artificial Intelligence, Sungkyunkwan University, Suwon 16410, Korea について
Electronics (Web) について
記憶装置 について
信頼性 について
誤り訂正 について
待ち時間 について
主メモリ について
非揮発性 について
DRAM について
誤り訂正符号 について
性能劣化 について
マルチレベル について
脆弱性 について
漏れ電力 について
相変化メモリ について
データーパターン について
符号化 について
貯蔵密度 について
マルチレベルセル について
相変化メモリ について
信頼性 について
三準位セル について
記憶装置 について
半導体集積回路 について
相変化メモリ について
密度 について
誤り について
脆弱性 について
意識 について
2値データ について
マッピング について