文献
J-GLOBAL ID:202102287732634893   整理番号:21A0667634

HVおよびMV DC絶縁システム:寿命予測のための予想外のエージングメカニズムとメトリックス【JST・京大機械翻訳】

HV and MV DC Insulation System: Unexpected Aging Mechanisms and Metrics for Life Prediction
著者 (3件):
資料名:
巻: 2020  号: ICIIS  ページ: 115-120  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
DC絶縁システムの設計と操作は,DCの電場分布に関連する課題に直面し,それは運転で変化し,部分放電開始電圧と部分放電現象に影響する。DC絶縁システムにおけるエネルギー化と電圧極性反転は,多くの時間続く電場過渡現象をもたらし,負荷変動が可変温度プロファイル過渡現象を発生させる。このような繰返し過渡時の部分放電の開始は,絶縁寿命を著しく減少させることができる。本論文では,電圧過渡時の電場と部分放電の挙動,寿命に及ぼすこのような過渡現象の影響,および過渡状態およびDC定常状態における部分放電を測定する方法について述べた。DC絶縁システムの寿命に及ぼす電圧過渡の影響を,部分放電の有無でモデル化し,部分放電の存在が,電圧過渡時にのみ制限されるとしても,寿命に劇的に影響を与えることを示した。DC絶縁システムにおける部分放電の測定に関連する問題についても論じ,自動で教師なし部分放電測定法を提案した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
図形・画像処理一般  ,  パターン認識 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る