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J-GLOBAL ID：202102288574107529   整理番号：21A0229237

RS-Mask:電力と故障解析に対する統合対策としてのランダム空間マスキング【JST・京大機械翻訳】

RS-Mask: Random Space Masking as an Integrated Countermeasure against Power and Fault Analysis

著者 (3件)： Ramezanpour Keyvan (Virginia Tech,The Bradley Department of Electrical and Computer Engineering,Blacksburg,VA,USA,24061) ,  Ampadu Paul (Virginia Tech,The Bradley Department of Electrical and Computer Engineering,Blacksburg,VA,USA,24061) ,  Diehl William (Virginia Tech,The Bradley Department of Electrical and Computer Engineering,Blacksburg,VA,USA,24061)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： HOST  ページ： 176-187  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現代のマスキング方式は,電力解析のようなパッシブサイドチャネル解析(SCA)に対して証明可能なセキュリティを提供するが,単一故障は,マスクされた実装においても暗号の秘密鍵を回復するために使用できる。本論文では,電力解析と統計的故障解析(SFA)技術の両方に対する対策としてランダム空間マスキング(RS-Mask)を提案した。RS-Mask方式において,すべての敏感な変数,故障および/または正しい値の分布は一様であり,したがって,故障感度分析(FSA),統計的無効故障解析(SIFA)および故障強度マップ解析(FIMA)を含む中間変数の分布を利用する任意のSFA技術に対する実装を保護した。AESにRS-Maskを実装し,SIFA攻撃が正しい鍵を同定できないことを示した。さらに,RS-Maskで保護されたAESのFPGA実装は,Welchのt検定を用いた電力解析SCAに抵抗があることを示した。RSMasked AESの面積は,類似のアーキテクチャの非保護AES実装の約3.5倍であり,既知のFPGA SCA耐性AES実装の約2倍である。最後に,差動故障解析(DFA)と差動故障強度解析(DFIA)のような差動技術に対してセキュリティを提供する感染性RS-Maskを導入し,オーバヘッドのわずかな増加を行った。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： マスキング ,  *故障 ,  *電力 ,  感度解析 ,  *故障解析 ,  暗号 ,  計算機アーキテクチャ ,  セキュリティ ,  FPGA ,  暗号鍵
準シソーラス用語： 電力解析 ,  t検定 ,  オーバヘッド ,  FPGA実装 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 故障解析 ,  統合 ,  対策 ,  マスキング