特許
J-GLOBAL ID：202103000874820009
暗視野・位相コントラストイメージングをスキャンするためのビーム硬化補正
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
伊東 忠重
, 伊東 忠彦
, 大貫 進介
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-557971
特許番号：特許第6805173号
出願日： 2016年05月06日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 放射線を放射するX線源と、放射線を検出する検出器と、少なくとも部分的に前記X線源及び前記検出器の間に配置された干渉計とを有する、スキャン方式の差動位相コントラスト及び/又は暗視野イメージャにより供給されるデータを処理する画像信号処理システムであって、
まったく同一のジオメトリ光線に対応する強度値の形式でデータを受信する入力ポートであって、前記強度値の取得は、(i)オブジェクトの前記イメージャによるスキャン動作において前記検出器の異なる検出器ピクセルを用いて、又は(ii)前記干渉計の少なくとも一部がスキャン動作において単一の検出器ピクセルの上を通って動かされる間に前記単一の検出器ピクセルを用いて行われる、入力ポートと、
前記ジオメトリ光線ごとの画像ピクセル位置について、前記強度値に対してビーム硬化処理動作を適用し、前記画像ピクセル位置の基準強度と基準可視性とのうち少なくとも1つを含む少なくとも1つの干渉基準パラメータを取得するように構成されたビーム硬化処理コンポーネントと、
前記強度値と前記少なくとも1つの干渉基準パラメータとから、位相信号と暗視野信号のうち少なくとも1つを再構成するように構成された再構成器と、
前記位相信号と前記暗視野信号とのうち少なくとも1つを出力する出力ポートとを有すし、
前記ビーム硬化処理動作は、前記ジオメトリ光線に沿って前記放射が受ける平均減衰に関係するインジケータパラメータの関数として、前記強度値について、前記少なくとも1つの干渉基準パラメータを計算することを含み、
前記インジケータパラメータと前記少なくとも1つの干渉パラメータとの間の関数関係は、検出器ピクセルごとに異なる、
画像信号処理システム。
IPC (3件)：
A61B 6/00 ( 200 6.01)
, G01N 23/041 ( 201 8.01)
, G01N 23/201 ( 201 8.01)
A61B 6/00 300 J
, A61B 6/00 330 Z
, G01N 23/041
, G01N 23/201
, A61B 6/00 ZDM
