特許
J-GLOBAL ID:202103003248387394
電位測定デバイス
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
稲葉 良幸
, 大貫 敏史
, 江口 昭彦
, 内藤 和彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-059002
公開番号(公開出願番号):特開2017-169791
特許番号:特許第6812119号
出願日: 2016年03月23日
公開日(公表日): 2017年09月28日
請求項(抜粋):
【請求項1】 可撓性のある基材と、
該基材の上に形成された電子回路と、
2つ以上の測定用電極と
を有し、
前記測定用電極が、可撓性のある基材の上に形成され、
配線に、銅、及び銅酸化物から成る群から選ばれる少なくとも一つが含まれており、
前記測定用電極が、疎水性粘着性バインダー、並びに平均二次粒子径が1mm以下の導電性微粒子を含む粘着性電極である、
電位測定デバイス。
IPC (2件):
A61B 5/256 ( 202 1.01)
, A61B 5/263 ( 202 1.01)
FI (2件):
A61B 5/04 300 M
, A61B 5/04 300 W
引用特許:
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (13件)
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