光モジュールの試験方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：長谷川芳樹 , 黒木義樹 , ▲高▼木邦夫 , 諏澤勇司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-127899
公開番号（公開出願番号）：特開2018-004320
特許番号：特許第6803158号
出願日： 2016年06月28日
公開日（公表日）： 2018年01月11日
請求項（抜粋）：

【請求項1】信号光を電気信号に変換する複数の受光素子と、入力信号光を複数の波長帯域の信号光に分岐して前記複数の波長帯域の信号光を前記複数の受光素子のそれぞれに入射させる複数のフィルタ素子とを備える光モジュールの試験方法において、前記複数の波長帯域の信号光とは所定波長離れた波長帯域の試験光を前記複数のフィルタ素子に入射させ、前記複数のフィルタ素子それぞれに対応した前記複数の受光素子それぞれに前記試験光を入力し、かつ、前記複数の受光素子から出力されたそれぞれの電気信号を取得し、前記それぞれの電気信号を基に、前記複数の受光素子ごとの変換特性値を取得する、光モジュールの試験方法。

IPC (3件)：