特許
J-GLOBAL ID：202103009909792310
複数のエッジを検出する方法およびデバイス
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
上田 邦生
, 柳 順一郎
, 小栗 眞由美
, 竹内 邦彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-546277
特許番号：特許第6956195号
出願日： 2018年01月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 物体の少なくとも1回の測定によって前記物体の材料境界面を決定する、コンピュータに実装される方法であって、
前記物体のラスタ化表現は、前記測定によって生成され、
前記ラスタ化表現には、複数の測定点があり、
測定点は、該測定点の位置で、前記物体の測定変数の値を示すイメージ情報の少なくとも1つの項目を有し、
前記方法が、
前記物体の前記ラスタ化表現のパラメータ設定を決定するステップであって、前記パラメータ設定が、前記ラスタ化表現の前記測定点のサブセットの、前記測定点のそれぞれに、少なくとも1つのパラメータを割り当てるステップと、
少なくとも1つのパラメータ依存のエッジ検出演算子を、前記ラスタ化表現の前記測定点に適用するステップであって、前記エッジ検出演算子が、前記ラスタ化表現内の、少なくとも1つの材料境界面の位置を決定するよう設計されるステップと
を含み、
測定点の前記イメージ情報からの、材料境界面の前記位置の前記決定の際に、前記エッジ検出演算子が、少なくとも、前記ラスタ化表現内の前記測定点に隣接する前記測定点のサブセットの前記イメージ情報を考慮し、
前記エッジ検出演算子の少なくとも1つが、測定点に適用される際に、前記物体内の少なくとも2つの直接隣接する材料境界面の前記位置を決定するよう設計される複数エッジ検出演算子であり、
測定点の前記パラメータの少なくとも1つが複数の材料境界面が前記測定点の周囲の範囲内に互いに直接隣接して配置されていることを示す場合にのみ、前記複数エッジ検出演算子が前記測定点に適用される方法。
IPC (2件)：
G06T 7/13 ( 201 7.01)
, G06T 7/00 ( 201 7.01)
G06T 7/13
, G06T 7/00 610 A
