特許
J-GLOBAL ID:202103010625054288

計測装置、光学機器の製造方法および光学機器の製造装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 藤元 亮輔 ,  水本 敦也 ,  平山 倫也
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-172475
公開番号(公開出願番号):特開2018-040570
特許番号:特許第6821361号
出願日: 2016年09月05日
公開日(公表日): 2018年03月15日
請求項(抜粋):
【請求項1】 被検面の形状または透過波面を計測する計測装置であって、 光源からの光を、照明光として前記被検面に照射する光学系と、 前記被検面からの反射光または透過光を検出するセンサと、を有し、 前記光学系は、前記光源側から順に配置された、正の屈折力を有する前群と、正の屈折力を有する後群と、から構成され、 短焦点距離から長焦点距離への変倍に際して、前記前群は前記光源側に移動し、前記後群は光軸方向の位置が固定され、 前記前群の焦点距離をf1、前記後群の焦点距離をf2とするとき、 1<f1/f2<10 なる条件式を満足することを特徴とする計測装置。
IPC (3件):
G01M 11/00 ( 200 6.01) ,  G02B 15/14 ( 200 6.01) ,  G02B 13/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01M 11/00 L ,  G02B 15/14 ,  G02B 13/00
引用特許:
審査官引用 (9件)
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