特許
J-GLOBAL ID:202103011135406352
窒化物半導体トランジスタ装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
下坂 スミ子
, 川成 渉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-166835
公開番号(公開出願番号):特開2021-044464
出願日: 2019年09月13日
公開日(公表日): 2021年03月18日
要約:
【課題】スイッチとしての性能に優れるノーマリオフ窒化物半導体トランジスタ装置を提供する。【解決手段】窒化物半導体トランジスタ装置において、基板101と、基板上に設けられた素子分離領域114と、基板上に設けられた第1の窒化物半導体層103と、第1の窒化物半導体層上に設けられ、第1の窒化物半導体層よりバンドギャップの大きい第2の窒化物半導体層104と、第2の窒化物半導体層上に設けられた第1の絶縁膜110と、第1の絶縁膜上に設けられた電荷蓄積用ゲート電極111と、電荷蓄積用ゲート電極上に設けられた第2の絶縁膜112と、第2の絶縁膜上に設けられた第1のゲート電極116と、面方向に電荷蓄積用ゲート電極を挟んで第2の窒化物半導体層上に設けられたソース電極109及びドレイン電極210と、電荷蓄積用ゲート電極上に設けられた第3の絶縁膜115と、第3の絶縁膜上に設けられた第2のゲート電極117と、を有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板と、前記基板上に設けられた電気的に不活性な素子分離領域と、前記基板上に設けられた窒化物半導体層と、前記窒化物半導体層上に設けられた第1の絶縁膜と、少なくとも前記第1の絶縁膜上に設けられた電荷蓄積用ゲート電極と、前記電荷蓄積用ゲート電極上に設けられた第2の絶縁膜と、前記第2の絶縁膜上に設けられた第1のゲート電極と、面方向に前記電荷蓄積用ゲート電極を挟んで前記窒化物半導体層上に設けられたソース電極およびドレイン電極と、前記電荷蓄積用ゲート電極上に設けられた第3の絶縁膜と、前記第3の絶縁膜上に設けられた第2のゲート電極と、を有することを特徴とする窒化物半導体トランジスタ装置。
IPC (5件):
H01L 21/338
, H01L 29/812
, H01L 29/778
, H01L 21/336
, H01L 29/78
FI (5件):
H01L29/80 F
, H01L29/80 H
, H01L29/78 301B
, H01L29/78 301G
, H01L29/78 301X
Fターム (32件):
5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD10
, 5F102GJ02
, 5F102GJ03
, 5F102GJ04
, 5F102GJ10
, 5F102GK04
, 5F102GL04
, 5F102GM04
, 5F102GQ01
, 5F102GR13
, 5F102GS10
, 5F102GV03
, 5F102GV06
, 5F102GV07
, 5F102GV08
, 5F102HC10
, 5F140AA02
, 5F140AA24
, 5F140BA01
, 5F140BA02
, 5F140BA06
, 5F140BA16
, 5F140BA17
, 5F140BB18
, 5F140BD01
, 5F140BD04
, 5F140BD07
, 5F140BD11
, 5F140BF35
, 5F140BF42
引用特許:
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