特許

J-GLOBAL ID：202103017738185715

応力評価方法

発明者： 天野 哲也 ,  境 禎明
出願人/特許権者： JFEエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-151266
公開番号（公開出願番号）：特開2020-026992
特許番号：特許第6922866号
出願日： 2018年08月10日
公開日（公表日）： 2020年02月20日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 金属基体の上層に非金属層が設けられた対象物の表面の所定位置にテラヘルツ波を照射可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を走査可能なテラヘルツ波発信手段と、前記対象物の前記所定位置において反射されたテラヘルツ波を検出可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を走査可能なテラヘルツ波検出手段と、を備えた応力評価装置による応力評価方法において、 前記テラヘルツ波発信手段から出射されたテラヘルツ波を前記非金属層に照射するとともに、前記テラヘルツ波検出手段により前記非金属層を透過したテラヘルツ波の強度を検出することによって、前記非金属層における応力状態を測定して前記非金属層を光弾性法におけるひずみ検出手段として用いることにより、前記金属基体における応力状態を評価する ことを特徴とする応力評価方法。

IPC (2件)：

G01L 1/00 ( 200 6.01) ,  G01L 1/24 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01L 1/00 B ,  G01L 1/00 G ,  G01L 1/24 Z

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開昭57-191504
  
• 応力分布測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-127697   出願人：オプトウエア株式会社