研課題
J-GLOBAL ID:202104000598644017
研究課題コード:7700011288
省エネデバイス用8インチ超大口径GaNウエハ
体系的課題番号:JPMJAL1201
実施期間:2012 - 2019
実施機関 (1件):
研究代表者:
(
, 大学院工学研究科, 教授 )
DOI:
https://doi.org/10.52926/JPMJAL1201
研究概要:
パワーデバイスおよびLED用基板として期待されているGaN基板の結晶欠陥低減と大口径化を推進しています。Naフラックス法およびシードポイント法を用いて、100個/cm2の転位欠陥密度と6インチ径のGaN基板の作製に成功。Si基板と同等の品質を有する8インチ超GaN基板の低コスト作製技術の開発を目指します。
タイトルに関連する用語 (4件):
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研究制度:
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上位研究課題:
革新的省・創エネルギーシステム・デバイス
研究所管機関:
報告書等:
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