研課題
J-GLOBAL ID：202104014790311731
研究課題コード：20352868
あらゆる半導体デバイスに適用できるオペランド観測技術の確立
体系的課題番号：JPMJFR203P
実施期間：2021 - 2027
実施機関 (1件)：
研究代表者：
(
, 物質構造科学研究所, 特任准教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJFR203P
研究概要：
昨今のエネルギー問題を解消すべく,クリーンエネルギー創出や省エネ化のための半導体材料やデバイスが次々と開発されています.これらの性能は,電荷キャリアである電子と正孔(電子が抜けた穴)の動きにより左右されます.本研究では,半導体デバイスが動作している状態下での電荷キャリアの動きを空間,時間,および,エネルギー的に評価する新規手法を開拓し,素子開発のスピードアップ,また,性能向上を目指します.
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北川パネル
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