動的繰返し速度を用いた静止レス測定による最小量子ランタイム特性化とキャリブレーション【JST・京大機械翻訳】

Tornow Caroline; Kanazawa Naoki; Shanks William E.; Egger Daniel J.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202200343662142 整理番号：22P0289593

動的繰返し速度を用いた静止レス測定による最小量子ランタイム特性化とキャリブレーション【JST・京大機械翻訳】

Minimum quantum run-time characterization and calibration via restless measurements with dynamic repetition rates

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発行年： 2022年02月14日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年08月15日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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量子プロセッサの性能はデバイスの特性と制御パルスの品質に依存する。クラウドベースの量子コンピュータを特徴付けて,それらを制御するパルスを較正することは,高忠実度操作に必要である。しかし,この時間集約的タスクは,デバイスのアベイラビリティにかかる。ここでは,キャリブレーションと特性化タスクをスピードアップする動的反復率による静止測定を示した。ランダムベンチマーキングは,アクティブリセットを用いた場合よりも,量子デバイス上で5.3倍速く,また,任意のデータを捨てることなく実行した。さらに,パラメータ走査と誤差増幅ゲートシーケンスで量子ビットを較正し,能動リセット上の量子デバイスで40倍までのスピードアップを示した。最後に,静止状態調整誤差を緩和する無静止量子プロセストモグラフィーを実行する方法論を提示した。これらの結果は,キャラクタリゼーションとキャリブレーションタスクのフットプリントを低減する。量子コンピュータは,従って,ゲート忠実度を維持するため,より多くの時間走行アプリケーションまたは実行キャリブレーションを,より頻繁に行うことができる。【JST・京大機械翻訳】

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, , , , , , 【Automatic Indexing@JST】

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