LaPt_2Si_2上の共鳴軟X線散乱【JST・京大機械翻訳】

Mukkattukavil Deepak John; Hellsvik Johan; Ghosh Anirudha; Chatzigeorgiou Evanthia; Nocerino Elisabetta; Wang Qisi; von Arx Karin; Huang Shih-Wen; Ekholm Victor; Hossain Zakir; Thamizhavel Arumugum; Chang Johan; Mansson Martin; Nordstr om Lars; Sathe Conny; Agaker Marcus; Rubensson Jan-Erik; Sassa Yasmine

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202200622588858 整理番号：22P0294199

LaPt_2Si_2上の共鳴軟X線散乱【JST・京大機械翻訳】

Resonant Soft X-Ray Scattering on LaPt$_2$Si$_2$

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資料名：
発行年： 2022年02月23日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年02月23日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

Si LおよびLa N端におけるLaPt_2Si_2単結晶のX線吸収(XAS)および共鳴非弾性X線散乱(RIXS)スペクトルを示した。データは密度汎関数理論により解釈され,SiスペクトルがSisとd局所部分状態密度(LPDOS)で記述でき,Laスペクトルは準原子局所4f励起に起因することを示した。計算は,Pt d-LPDOSが占有状態を支配し,鋭い局在Laf状態が,観察と一致して,非占有状態で見出されることを示した。【JST・京大機械翻訳】

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X線スペクトル一般

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