粉末回折計のX線源のキャリブレーションとシリコンマイクロストリップ検出器の放射試験【JST・京大機械翻訳】

Fokitis Emmanuel; Geralis Theodoros; Maltezos Stavros; Vodinas Nikolaos

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202202728321403 整理番号：22P0184967

粉末回折計のX線源のキャリブレーションとシリコンマイクロストリップ検出器の放射試験【JST・京大機械翻訳】

Calibration of X-Ray Source of a Powder Diffractometer and Radiation Test of Silicon Microstrip Detectors

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発行年： 2020年08月26日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2020年08月26日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

高速シンチレータ計数器に基づく粉末回折計のX線源の焦点面における絶対フラックスの較正のためのフレキシブル装置を示した。X線管上の高電圧に依存して測定したフラックスは200-400MHzの範囲であり,一方,5%のオーダーのフラックスにおける不確実性を推定した。また,多チャネルシリコンマイクロストリップX線検出器の放射線硬度研究に対してこのキャリブレーションを適用した。【JST・京大機械翻訳】

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素粒子・核物理実験技術一般 , 放射線検出・検出器

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