抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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二重エネルギーイメージングは,従来のX線イメージングよりもいくつかの利点を提供する臨床的に確立された技術である。2つの明確なX線スペクトルによる測定を行うことにより,エネルギー依存減衰の差を利用して材料固有の情報を得た。この情報は,臨床診断を改善するために様々なイメージング応用で使用される。近年,格子ベースのX線暗視野イメージングは,イメージングコミュニティにおいてますます注目を集めている。X線暗視野信号は,物体内の超小角散乱から生じ,従って,イメージングシステムの空間分解能より下の微細構造に関する情報を提供する。この特性は,現在研究されている多くの有望な将来のイメージング応用をもたらした。しかし,検出暗視野信号だけが超小角散乱の全量を表すので,異なる微細構造は,現在のX線暗視野イメージング技術とは区別できない。これらの限界を克服するために,著者らは二重エネルギーX線暗視野材料分解と呼ばれる新しい概念を提示し,それは基本的材料分解手法を減衰ベースの二重エネルギーイメージングから暗視野イメージングモダリティに移す。二重エネルギー暗視野材料分解のための物理モデルとアルゴリズムを開発し,実験測定における提案概念を評価した。著者らの結果は,2つの異なるX線スペクトルでエネルギー依存暗視野信号をサンプリングすることにより,2つの異なる微細構造材料への分解が可能であることを示唆する。二重エネルギーイメージングと同様に,付加的微細構造特異的情報は臨床診断に有用である。【JST・京大機械翻訳】