擬似六角形計量によるElectron回折スポットパターンの客観的点対称分類/定量化【JST・京大機械翻訳】

Moeck Peter; von Koch Lukas

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202205901812263 整理番号：22P0027026

擬似六角形計量によるElectron回折スポットパターンの客観的点対称分類/定量化【JST・京大機械翻訳】

Objective Point Symmetry Classifications/Quantifications of an Electron Diffraction Spot Pattern with Pseudo-Hexagonal Metric

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発行年： 2022年01月12日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年02月13日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

ディジタル伝送電子および走査プローブ顕微鏡画像からの二次元(2D)における結晶学的対称性分類および定量化に対する最近開発した情報理論的アプローチを,初めて,実験的電子回折スポットパターンの解析に適用した。ディジタル入力データは,近似的にGauss分布雑音のピクセルワイズ和と厳密に2D周期である未知の基礎信号から成るこの手法で考慮されている。結晶内の構造欠陥,または結晶表面,機器画像記録ノイズ,透過型電子顕微鏡におけるゼロ結晶-傾斜条件からのわずかな偏差,脂質二分子層における内因性膜蛋白質複合体の構造生物学研究における不均一染色,およびディジタルデータのアルゴリズム処理における小さな不正確性は,単一一般化雑音項にすべて寄与する。最小破壊対称性に固定されている平面対称性グループと投影Laueクラス(または2D Bravais格子タイプ)を,一般化雑音の存在下で真のものと同定する。最小破壊対称性に固定されないよりひどく破れた対称性を擬似対称性として同定した。電子回折スポットパターンの著者らの点対称性定量化研究は,4D走査透過電子顕微鏡の新しいコントラスト機構が最近他の著者によって実証されたので,非常に局所的である。客観的対称性の定量化の利用は,産業全体の標準として,そのコントラストモードの確立の先行条件になる。【JST・京大機械翻訳】

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分子構造

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