抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本論文では,逐次統計解析の枠組みにおける仮説を検証する問題を扱う。主な関心事は,Kiefer-Weiss問題におけるサンプリング計画の最適設計と性能評価である。離散的指数ファミリーに従う観測のために,著者らは修正Kiefer-Weiss問題における最適設計のためのアルゴリズムを提供して,それらの性能を評価するための公式を得て,操作特性関数,平均サンプル数,およびいくつかの関連特性を計算した。これらの公式は,特殊ケースとして,逐次確率比試験(SPRT)とそれらの短縮版,ならびに最適有限水平連続試験である。開発したアルゴリズムに基づいて,元のKiefer-Weiss問題に対する最適試験とその性能評価の構築法を提案した。すべてのアルゴリズムは,Rプログラミング言語の機能として実装され,{https://github.com/tosinabase/Kiefer Weiss}からダウンロードされ,そこでは,二項,Poisson,および負の二項分布に対する関数が容易に利用可能である。最後に,Kiefer-Weiss解をSPRTと,同じレベルの誤差確率を持つ固定サンプルサイズテストとの数値比較を行った。【JST・京大機械翻訳】