プレプリント
J-GLOBAL ID:202202207685000669   整理番号:22P0204952

機械学習アルゴリズムによるテストセット最適化【JST・京大機械翻訳】

Test Set Optimization by Machine Learning Algorithms
著者 (3件):
資料名:
発行年: 2020年10月28日  プレプリントサーバーでの情報更新日: 2020年10月28日
JST資料番号: O7000B  資料種別: プレプリント
記事区分: プレプリント  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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診断結果は試験セットの容積に大きく依存する。最も効率的なテストセットを導出するために,比較的正確な診断を生成するテストデータの最小量を予測するいくつかの機械学習ベースの方法を提案した。故障回路からの出力を収集することにより,特徴行列とラベルベクトルを生成し,試験終了点の推論情報を含む。そこで,データにフィットし,テストを終了する時の予測モデルを開発した。考慮した方法は,LASSOとサポートベクターマシン(SVM)を含み,目標(ラベル)と予測子(特徴マトリックス)間の関係がLASSOで線形であり,SVMで非線形であると考えられている。数値結果は,SVMが90.4%の診断精度に達し,一方,試験セットの体積を35.24%まで減らせることを示した。【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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数値計算  ,  分子の電子構造 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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