高エネルギー物理学における弱値増幅:B中間子崩壊におけるCPの破れの精密測定のための事例研究【JST・京大機械翻訳】

Higashino Satoshi; Mori Yuichiro; Takubo Yosuke; Higuchi Takeo; Ishikawa Akimasa; Tsutsui Izumi

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202207698827961 整理番号：21P0061322

高エネルギー物理学における弱値増幅:B中間子崩壊におけるCPの破れの精密測定のための事例研究【JST・京大機械翻訳】

Weak Value Amplification in High Energy Physics: A Case Study for Precision Measurement of CP Violation in B Meson Decays

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで

この文献はプレプリントです。プレプリントについてはこちらをご確認ください。

著者 (6件)： , , , , ,
資料名：
発行年： 2020年11月15日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2021年07月09日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

1988年にAharonovらによって提案された弱い値増幅の技術を,物理プロセスにおける最終状態を能動的に特定する,ΔΨポスト選択の自由度を利用して可能になった精密測定の目的で,物理学の種々の分野に適用した。ここでは,高エネルギー粒子物理学における弱い値増幅の技術を利用する可能性を初めて報告したが,特にB中間子減衰におけるCP-違反パラメータの測定において,減衰モードの有効寿命がポスト選択により統計的に延長されることが期待される。著者らの解析は,SuperKEKB衝突器でのBelle II実験で採用したとき,有効寿命が2.6倍まで延長され,CP違反パラメータの測定精度もその効果によって改善されることを示した。【JST・京大機械翻訳】

, , , , ,
, , , , , 【Automatic Indexing@JST】

素粒子・核物理実験技術一般 , 中間子の崩壊

, , , , , , ,

前のページに戻る