抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本論文では,4つの異なる基板(ダイヤモンド,Si,サファイア,およびポリイミド)上に形成したβ-Ga_2O_3 NMs Schottky障壁ダイオード(SBD)の過渡的遅延上昇および落下時間を,異なる温度条件下でサブミクロン2次分解能時間分解電気測定システムを用いて測定した。デバイスは,β-Ga_2O_3NMs SBDが高k基板上に転写印刷されたとき,著しく遅延したターンオン/オフ-オン-オフ時間を示した。さらに,β-Ga_2O_3NM厚さとそれらの過渡特性の間の関係を系統的に調べ,フォノン散乱が,β-Ga_2O_3NMの厚みが薄くなるので,熱放散において重要な役割を果たし,また,マルチフィジックスシミュレータによって検証されることを見出した。全体として,著者らの結果は,β-Ga_2O_3NMsベースデバイスの性能と共に,異なる熱特性と異なるβ-Ga_2O_3NM厚さを有する種々の基板の影響を明らかにした。従って,これらの結果は,β-Ga_2O_3層からの熱放散を最大化することにより,将来のβ-Ga_2O_3デバイスの性能を最適化するための更なる努力をガイドできる。【JST・京大機械翻訳】