CMSエンドキャップミュー粒子システムの最内部ステーションME0に対する大面積三重GEM検出器と新箔設計のレート能力【JST・京大機械翻訳】

Bianco Michele; Fallavollita Francesco; Fiorina Davide; Pellecchia Antonello; Garcia Luis Felipe Ramirez; Rosi Nicole; Verwilligen Piet

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202210657702039 整理番号：22P0278181

CMSエンドキャップミュー粒子システムの最内部ステーションME0に対する大面積三重GEM検出器と新箔設計のレート能力【JST・京大機械翻訳】

Rate capability of large-area triple-GEM detectors and new foil design for the innermost station, ME0, of the CMS endcap muon system

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発行年： 2022年01月22日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年01月22日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

CMSミューオン分光計の受容を2.4<λ<2.8に拡張するために,ME0ステーションを形成する三重GEMチャンバのスタックをCMSフェーズ2アップグレードのために計画した。これらの大面積マイクロパターンガス状検出器は150kHz/cm ̄2までの期待されるバックグラウンド粒子フラックスを有する挑戦的な環境で動作しなければならない。従来の非抵抗気体検出器と異なり,このような三重GEM検出器のレート能力は空間電荷効果ではなく,抵抗保護回路を流れるアバランシェ誘起電流によるチャンバ電極上の電圧降下(放電消光剤として導入)によって制限される。中程度のフラックスを有する大面積三重GEM検出器の照射の研究を行い,高い統合ヒット率を得た。結果は,公称検出器ガス利得の40%の高さの低下を示し,それは追跡効率の厳しい損失をもたらす。「伝統的」横方向セグメンテーションの代わりに,半径方向の電極セグメンテーションを有するGEM箔の新しい設計に導く可能な緩和戦略を論じた。新しい設計の利点は,異なる分野にわたる均一ヒット率,電圧補償の必要性のない利得損失の最小化,およびバックグラウンドフラックス形状に対する検出器利得の独立性を含む。【JST・京大機械翻訳】

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素粒子・核物理実験技術一般

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