将来のZ工場での崩壊Z→affによるアキシオン様粒子検出の展望【JST・京大機械翻訳】

Yue Chong-Xing; Yang Shuo; Wang Han; Zhang Nan

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202210949451649 整理番号：22P0329124

将来のZ工場での崩壊Z→affによるアキシオン様粒子検出の展望【JST・京大機械翻訳】

Prospects for detecting axion-like particles via the decay $Z\rightarrow af\bar{f}$ at future $Z$ factories

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発行年： 2022年04月10日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年04月10日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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将来のZ工場における減衰Z→affを介して,アキシオン様粒子(ALPs,dubbed)を検出する見通しを調べた。減衰チャネルa→μ ̄+μ ̄-およびa→bbを考慮して,4種類の信号μ ̄+μ ̄-/E,bb/E,e ̄+e ̄-μ ̄+μ ̄-およびe ̄+e ̄-bbを調べた。これらのチャンネルはZ工場でALPを検出するのに有望であり,結合g_aZZとg_aγZの感度限界を得た。【JST・京大機械翻訳】

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仮説粒子とその他の素粒子 , ハドロンによって引き起されるその他の反応

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