Alcator C-Modスクレイプオフ層における間欠的ゆらぎのミラーLangmuirプローブとガスパフイメージング測定の比較【JST・京大機械翻訳】

Kube R.; Theodorsen A.; Garcia O. E.; Brunner D.; LaBombard B.; Terry J. L.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202211307770062 整理番号：22P0143258

Alcator C-Modスクレイプオフ層における間欠的ゆらぎのミラーLangmuirプローブとガスパフイメージング測定の比較【JST・京大機械翻訳】

Comparison between mirror Langmuir probe and gas puff imaging measurements of intermittent fluctuations in the Alcator C-Mod scrape-off layer

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発行年： 2020年05月05日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2020年05月05日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

Alcator C-Modトカマクのオーム加熱プラズマにおいて,スクレイピーオフ層(SOL)プラズマ変動の統計的特性を調べた。初めて,プラズマ変動および変動を記述するパラメータを,同じプラズマ放電をサンプリングする,ミラーLangmuirプローブ(MLP)およびガスパフイメージング(GPI)からの測定を通して比較した。この比較はMLP電子密度と温度測定から合成した線発光時系列データの解析によって補完された。MLPとGPIによって観測された変動は,正に歪んだと平らかな確率密度関数と共に,一次1の相対的な変動振幅を典型的に表示する。そのようなデータ時系列は,非相関,2側面指数パルスの重ね合わせとしてデータをモデル化する確立された確率的フレームワークによってよく記述される。プロセスの最も重要なパラメータは間欠性パラメータであり,ΔΨ_dは単一パルスの継続時間を表示し,θ_wは連続パルス間の平均待ち時間を与える。ここでは,新しいデコンボリューション法を用いて,これらのパラメータをデータの異なる統計から一貫して推定できることを示した。また,MLPとGPI診断によってサンプリングされたデータの統計的特性は,非常に類似していることを示した。最後に,合成線発光時系列に対するGPI信号の比較は,測定した発光強度が中性粒子動力学を無視した単純化モデルによってのみ説明できないことを示唆した。【JST・京大機械翻訳】

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