キセノンベース粒子検出器用のPTFEのVUV透過【JST・京大機械翻訳】

Althueser Lutz; Lindemann Sebastian; Murra Michael; Schumann Marc; Wittweg Christian; Weinheimer Christian

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202211432165472 整理番号：21P0034983

キセノンベース粒子検出器用のPTFEのVUV透過【JST・京大機械翻訳】

VUV Transmission of PTFE for Xenon-based Particle Detectors

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発行年： 2020年06月10日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2020年10月19日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

粒子および宇宙粒子物理学における稀な事象探索のための液体キセノン(LXe)ベースの検出器を,高キセノンシンチレーション光収集および検出器材料からの低バックグラウンド速度のために最適化した。ポリテトラフルオロエチレン(PTFE,テフロン)は,178nmのピーク発光を有するVUV LXeシンチレーション光に対する高い反射率のために,活性LXe体積をカプセル化するために一般的に使用される。PTFEから生じるバックグラウンド信号の反射率,透過および数はPTFE検出器壁の厚さに依存する。本研究では,LXe検出器の設計段階でしばしば考慮された様々な厚さのPTFEに対するVUV透過測定を提示した。PTFE試料を178nmの波長でコリメート光を用いてLXeの反射率測定に用いた装置で測定した。真空およびガス状キセノンの測定を,KubelkaおよびMunkモデルによって,また,≧0.7mm厚さの試料に対するBeer-Lambertの法則によって記述し,λ_BL=(0.89±0.05)mmの透過係数を得た。XENONnT暗黒物質実験のPTFE壁厚をこれらの測定によって最適化し,≧3mmとして選択した。【JST・京大機械翻訳】

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素粒子・核物理実験技術一般 , 放射線検出・検出器

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