抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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Brakerski et.al[BCM+18]は,単一非トラス量子デバイスの暗号試験のモデルを導入し,証明可能なランダム生成のためのプロトコルを与えた。これまでの研究で公開された重要課題,すなわちランダム性の発生速度を扱うため,Learningの漏洩レジリエンス特性を用いた。この新しいプロトコルは,nがプロトコルのパラメータであり,全通信がO(n)である一定のラウンドにおけるランダム性のΩ(n)新鮮ビットを証明でき,その結果,ほぼ最適な速度を達成した。出力が統計的にランダムであるという証明は概念的に簡単で技術的要素である。【JST・京大機械翻訳】