抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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多くのfables半導体企業は,それらの設計を第三者製作住宅に委託する。製造住宅を含むアウトソーシング後のチェーンの信頼性は確立されていないので,悪意のある意図がある間の敵対は,ハードウェアトロイーン(HTs)を挿入することによって設計を改ざす可能性がある。そのようなHTの検出は,チップの信頼と完全性を保証するために最も重要である。しかし,サイドチャネル解析に基づく検出技術の効率は,プロセス変動によって大きく影響を受ける。本論文では,トポロジー的に対称な経路の遅延を分析することによってHTを検出する方法論を提案した。HT検出の参照としてゴールデンICに依存するよりも,提案技法は自己参照の概念を採用した。本研究では,ICにおけるトポロジー的に対称な経路の遅延が,プロセス変動によって同様に影響を受けるという事実を活用した。プロセス変動によって最小影響を受けるトポロジー的に対称な経路を選択する手順を提示した。さらに,そのような経路が本質的に設計に存在しないならば,余分な論理ゲートを挿入することによってトポロジー的に対称な経路を作成するための技術を提案した。ISCAS-85ベンチマークで行ったシミュレーションは,提案方法が3%以下の偽陽性率で100%の真の陽性率を達成できることを立証した。実験では,閾値電圧(V_th)において,最大15%のイントラダイと20%のダイ間の変動を考慮した。【JST・京大機械翻訳】