XENON1TおよびXENONnT実験における ̄124Xeおよび ̄136Xeの二重弱崩壊【JST・京大機械翻訳】

Aprile E.; Abe K.; Agostini F.; Maouloud S. Ahmed; Alfonsi M.; Althueser L.; Andrieu B.; Angelino E.; Angevaare J. R.; Antochi V. C.; Martin D. Anton; Arneodo F.; Baudis L.; Baxter A. L.; Bellagamba L.; Biondi R.; Bismark A.; Brown A.; Bruenner S.; Bruno G.; Budnik R.; Cai C.; Capelli C.; Cardoso J. M. R.; Cichon D.; Clark M.; Colijn A. P.; Conrad J.; Cuenca-Garcia J. J.; Cussonneau J. P.; D'Andrea V.; Decowski M. P.; Di Gangi P.; Di Pede S.; Di Giovanni A.; Di Stefano R.; Diglio S.; Eitel K.; Elykov A.; Farrell S.; Ferella A. D.; Fischer H.; Fulgione W.; Gaemers P.; Gaior R.; Rosso A. Gallo; Galloway M.; Gao F.; Glade-Beucke R.; Grandi L.; Grigat J.; Guida M.; Higuera A.; Hils C.; Hoetzsch L.; Howlett J.; Iacovacci M.; Itow Y.; Jakob J.; Joerg F.; Joy A.; Kato N.; Kara M.; Kavrigin P.; Kazama S.; Kobayashi M.; Koltman G.; Kopec A.; Landsman H.; Lang R. F.; Levinson L.; Li I.; Li S.; Liang S.; Lindemann S.; Lindner M.; Liu K.; Loizeau J.; Lombardi F.; Long J.; Lopes J. A. M.; Ma Y.; Macolino C.; Mahlstedt J.; Mancuso A.; Manenti L.; Manfredini A.; Marignetti F.; Undagoitia T. Marrodan; Martens K.; Masbou J.; Masson D.; Masson E.; Mastroianni S.; Messina M.; Miuchi K.; Mizukoshi K.; Molinario A.; Moriyama S.; Mora K.; Mosbacher Y.; Murra M.; Mueller J.; Ni K.; Oberlack U.; Paetsch B.; Palacio J.; Peres R.; Pienaar J.; Pierre M.; Pizzella V.; Plante G.; Qi J.; Qin J.; Garcia D. Ramirez; Reichard S.; Rocchetti A.; Rupp N.; Sanchez L.; Santos J. M. F. dos; Sarnoff I.; Sartorelli G.; Schreiner J.; Schulte D.; Schulte P.; Eissing H. Schulze; Schumann M.; Lavina L. Scotto; Selvi M.; Semeria F.; Shagin P.; Shi S.; Shockley E.; Silva M.; Simgen H.; Takeda A.; Tan P. -L.; Terliuk A.; Thers D.; Toschi F.; Trinchero G.; Tunnell C.; Tonnies F.; Valerius K.; Volta G.; Wei Y.; Weinheimer C.; Weiss M.; Wenz D.; Wittweg C.; Wolf T.; Xu Z.; Yamashita M.; Yang L.; Ye J.; Yuan L.; Zavattini G.; Zerbo S.; Zhong M.; Zhu T.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202213429557761 整理番号：22P0346303

XENON1TおよびXENONnT実験における ̄124Xeおよび ̄136Xeの二重弱崩壊【JST・京大機械翻訳】

Double-Weak Decays of $^{124}$Xe and $^{136}$Xe in the XENON1T and XENONnT Experiments

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資料名：
発行年： 2022年05月09日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年09月06日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

XENON1Tにおける ̄136Xeの ̄124Xeとニュートリノレス二重β減衰(0νββ)の二重電子捕獲(2νECEC)の探索に関する結果を示した。2νECEC信号モデルでのKアップからNシェルまでの捕獲を考察し,0.87kg×yr同位体曝露でT_1/2 ̄2νECEC=(1.1±0.2_stat±0.1_sys)x10 ̄22yrの全半減期を測定した。信号の統計的有意性は7.0σであった。0νββを探索するために, ̄136Xe曝露の36.16kg×yrのXENON1Tデータを用いた。シグナルの証拠はなく,T_1/2 ̄0νββ>1.2×10 ̄24yrat90%CLの半減期に下限をセットした。これは,今までに濃縮ターゲットのない暗黒物質検出器からの最良の結果である。0νββに対するXENONnTの感度に関する予測も報告した。275kg×yr ̄136Xe曝露を仮定すると,期待される感度はT_1/2 ̄0νββ>2.1×10 ̄25yrat90%CLであり,これはΔΨm_ββ′<(0.19~0.59)eV/c ̄2の有効Majorana質量範囲に対応する。【JST・京大機械翻訳】

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ベータ崩壊

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