Electron-正孔結合はハロゲン化物ペロブスカイトナノ結晶薄膜におけるキャリア輸送を支配する【JST・京大機械翻訳】

Lichtenegger Michael F.; Drewniok Jan; Bornschlegl Andreas; Lampe Carola; Singldinger Andreas; Henke Nina A.; Urban Alexander S.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202213570608426 整理番号：22P0304348

Electron-正孔結合はハロゲン化物ペロブスカイトナノ結晶薄膜におけるキャリア輸送を支配する【JST・京大機械翻訳】

Electron-Hole Binding Governs Carrier Transport in Halide Perovskite Nanocrystal Thin Films

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発行年： 2022年03月15日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年03月15日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

二次元ハロゲン化物ペロブスカイトナノプレートレット(NPLs)は,広いスペクトル同調性,超高速放射減衰,高い量子収率(QY),および配向発光を含む例外的な発光特性を有する。効率的なデバイスを実現するためには,NPL薄膜中で励起子輸送がどのように進行するかを理解することが必須である。電子-正孔対の高い結合エネルギーのため,励起子は一般にキャリア移動の原因となる支配的な化学種と考えられている。15{deg}Cと50{deg}Cの間のペロブスカイトナノ結晶(NC)薄膜における励起子拡散をマッピングするために,空間的および時間的に分解された光学顕微鏡を用いた。室温(RT)では,拡散長がナノ結晶(NC)の厚さと逆相関することを見いだした。温度の上昇と共に,励起子拡散はすべてのNC膜で減少したが,異なる速度では低下した。これは,より薄いNPLがより高い拡散長さを示す特定の温度ターンオーバー点をもたらす。この異常な拡散挙動を,著者らの温度範囲内の個々のNC内の励起子と自由電子正孔対の共存に帰した。NCを囲む有機配位子シェルは電荷移動を妨げる。従って,非結合状態で電子-正孔対スペンドは,FRET媒介のNC間移動速度と結果としての全体的拡散を減少させる。これらの結果は,励起子拡散が,強く閉じ込められたハロゲン化物ペロブスカイトNC膜においてどのように進行するかを明らかにし,光電子デバイスに対する重要な考察を強調した。【JST・京大機械翻訳】

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非遷移金属元素の錯体 , 光化学一般 , 分子と光子の相互作用 , 脂肪族アミン・イミン・第四アンモニウム・インモニウム

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