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J-GLOBAL ID：202202214168071510   整理番号：22A0848791

ランダム性の美しさの回復による信頼できないメモリを用いた試験の設計【JST・京大機械翻訳】

Design for Test With Unreliable Memories by Restoring the Beauty of Randomness

著者 (3件)： Ghanaatian Reza (Department of Electrical Engineering, Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland) ,  Widmer Marco (Department of Electrical Engineering, Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland) ,  Burg Andreas (Department of Electrical Engineering, Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL), Lausanne, Switzerland)
資料名： IEEE Design & Test  (IEEE Design & Test)
巻： 39  号： 2  ページ： 112-120  発行年： 2022年 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 2168-2356  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,埋込みメモリのための設計-試験方法論を提示した。方法論は,ポストファブリケーション誤差の完全ランダム故障モデルに依存し,これは低オーバーヘッド試験戦略をもたらす。方法論の有効性を,故障メモリを有する組込みシステムに関して実証した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *記憶装置 ,  設計 ,  故障 ,  方法論 ,  集積回路メモリ ,  有効性 ,  組込みシステム
準シソーラス用語： 埋込みメモリ ,  故障モデル ,  ランダム性 ,  オーバヘッド , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (5件)： 美しさ ,  回復 ,  信頼 ,  試験 ,  設計