ゲージ依存対称性指標により保護されたトポロジカル欠陥線の設計【JST・京大機械翻訳】

Wen Erda; Bisharat Dia'aaldin J.; Davis Robert J.; Yang Xiaozhen; Sievenpiper Daniel F.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202215744814252 整理番号：22P0275067

ゲージ依存対称性指標により保護されたトポロジカル欠陥線の設計【JST・京大機械翻訳】

Designing Topological Defect Lines Protected by Gauge-dependent Symmetry Indicators

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発行年： 2022年01月15日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年01月15日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

対称指標は,最小計算費用のみを必要とするトポロジー相を特性化するための最新のツールであるが,実際のデバイスを設計するためのエレガントな手段を提供する。本論文では,回転対称性指標を用いて,トポロジー的にロバストな導波路を構築,特性化し,次にプリント回路基板(PCB)プラットフォーム上で実験的に検証した。この設計は対称指標の実空間ゲージ依存性を利用し,簡単なシフトを持つC_6格子を採用し,欠陥線支持トポロジーエッジモードを形成する。モードが以前のトポロジー導波路と同じ特徴を実現することができるが,さらに,1方向終端を形成するための再構成可能性とユニークな能力のより大きな度合いを持っていることを示した。さらに,この設計は,フォトニック結晶のトポロジー特性を決定する際に重要な役割を果たす実際の空間情報を示し,より広い範囲の可能な実現を可能にした。【JST・京大機械翻訳】

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, , , , 【Automatic Indexing@JST】

光導波路,光ファイバ,繊維光学 , 誘電体一般 , 量子光学一般

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