Hanbury BrownとTwiss干渉測定により実施したPAL-XFEL施設における硬X線放射の統計的解析【JST・京大機械翻訳】

Kim Young Yong; Khubbutdinov Ruslan; Carnis Jerome; Kim Sangsoo; Nam Daewoong; Nam Inhyuk; Kim Gyujin; Shim Chi Hyun; Yang Haeryong; Cho Myunghoon; Min Chang-Ki; Kim Changbum; Kang Heung-Sik; Vartanyants Ivan

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202217325423998 整理番号：22P0310275

Hanbury BrownとTwiss干渉測定により実施したPAL-XFEL施設における硬X線放射の統計的解析【JST・京大機械翻訳】

Statistical analysis of hard X-ray radiation at PAL-XFEL facility performed by Hanbury Brown and Twiss interferometry

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発行年： 2022年03月25日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年03月25日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

PAL-XFEL施設において,二次相関に基づくHanbury BrownとTwiss干渉測定実験を行った。X線放射の統計的特性をこの実験で研究した。測定は,それぞれ,自己増幅自然放出(SASE),モノクロメータによるSASE,および120pC,180pC,および200pC電子バンチ電荷での自己シード領域,種々の操作条件で10keV光子エネルギーでNCIビームラインで行った。統計解析は,操作条件に依存して6fsから9fsまでの短い平均パルス持続時間を示した。約70~80%のコヒーレンスの高い空間度を,モノクロメータのSASEビームと操作の自己シード領域に対して空間領域で測定した。得られた値はPAL-XFEL施設で発生する梁の統計的特性を記述する。【JST・京大機械翻訳】

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その他のレーザ , 加速器一般及び理論

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