六方晶窒化ホウ素フレークにおける機械的剥離誘起拡張欠陥の発光特性【JST・京大機械翻訳】

Ciampalini G.; Tappy C. V. Blaga. N.; Pezzini S.; Watanabe; Taniguchi; Bianco F; Roddaro S.; Morral A. Fontcuberta i; Fabbri F.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202218096501099 整理番号：22P0308193

六方晶窒化ホウ素フレークにおける機械的剥離誘起拡張欠陥の発光特性【JST・京大機械翻訳】

Light emission properties of mechanical exfoliation induced extended defects in hexagonal boron nitride flakes

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発行年： 2022年03月22日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年03月22日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

最近,hBNは,特異な欠陥関連発光特性のため,量子光学のための興味深いプラットフォームになった。同時に,hBNは2D材料デバイスを実現するための理想的な絶縁支持体として確立され,反対に,欠陥はデバイス性能に影響する。本研究では,機械的剥離により得られたhBNフレークの発光特性を,プロセスで発生する拡張欠陥に特に注目して研究した。特に,数百nmの範囲の異なる厚さのhBNフレークにおける発光として異なる問題を取り上げ,薄片のより薄い領域における深い準位発光のより高い濃度を明らかにした。hBNのバンド端近傍発光と転位のアレイの形成に関連した2.36eVにおける新しい発光の同時存在の,重要な青方偏移(130meV)を有するフレークのいくつかの領域における結晶変形の影響を認識する。異なる結晶学的方位を有する厚さステップのカソードルミネセンスとサブバンドギャップ励起光ルミネセンスによる発光特性を研究し,放射中心の異なる濃度の存在を明らかにした。CLマッピングは,SEMとAFMの形態学的分析に不可視で,埋没した厚さステップを検出することができる。【JST・京大機械翻訳】

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, , , , , 【Automatic Indexing@JST】

無機化合物のルミネセンス , 半導体のルミネセンス

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