非射影測定を用いた純粋もつれ2キュートリット状態からの最大ランダム性のデバイスに依存しない証明【JST・京大機械翻訳】

Borkala Jakub Jan; Jebarathinam Chellasamy; Sarkar Shubhayan; Augusiak Remigiusz

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202219133932999 整理番号：22P0277809

非射影測定を用いた純粋もつれ2キュートリット状態からの最大ランダム性のデバイスに依存しない証明【JST・京大機械翻訳】

Device-independent certification of maximal randomness from pure entangled two-qutrit states using non-projective measurements

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発行年： 2022年01月21日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年01月21日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

デバイスに依存しない方法[E.Woodhead et al.,Phys.Rev.において,任意の純2量子ビットもつれ状態からランダム性の最大量をどのように証明するかが最近実証された。研究2,042028(R)(2020),より高い局所次元のもつれ状態からの最適ランダム性認証の問題は,未解決のままである。ここでは,純粋二分もつれ2重項状態および極値9アウト一般非投影測定を用いて,2log_23ランダムビットの最大可能量のデバイス非依存認証の方法を紹介した。この目的のために,[S.Sarkar et al.,arXiv:2110.15176]で最近導入された拡張Bellシナリオを利用し,二次元Hilbert空間における完全Weyl-Heisenberg基底の認証のためのデバイスに依存しない方法を,2つの部分もつれ状態の認証のための片側デバイス独立法と組み合わせた。【JST・京大機械翻訳】

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量子光学一般

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