高純度偏光測定によるX線二色性と複屈折の解明【JST・京大機械翻訳】

Schmitt Annika T.; Joly Yves; Schulze Kai S.; Marx-Glowna Berit; Uschmann Ingo; Grabiger Benjamin; Bernhardt Hendrik; Loetzsch Robert; Juhin Amelie; Debray Jerome; Wille Hans-Christian; Yavas Hasan; Paulus Gerhard G.; Rohlsberger Ralf

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202219801352169 整理番号：21P0025707

高純度偏光測定によるX線二色性と複屈折の解明【JST・京大機械翻訳】

Disentangling X-ray dichroism and birefringence via high-purity polarimetry

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資料名：
発行年： 2020年02月27日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2021年01月05日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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高輝度シンクロトロン放射源は,光学領域における従来の偏光測定を超えるX線偏光解析のための新しい道を開く。交差設定における線形X線偏光子を用いて,10 ̄-10までの偏光消光比を達成した。これは,例えば,真空複屈折と二色性による強磁場QEDにおいて起こる,プローブスズキスト光学異方性に鋭敏な方法を与える。ここでは,高純度偏光測定を用いて,最大感度およびスペクトル分解能を有する凝縮物質系における電子異方性を明らかにした。ベンチマークシステムとしてCuOとLa_2CuO_4を取り上げ,Cu K吸収端を横切る分極変化の完全なキャラクタリゼーションと二色と複屈折の寄与へのそれらの分離を示した。回折制限シンクロトロン放射光源とX線レーザにおいて,10 ̄-12の偏光消光比を達成することができ,著者らの方法は,極端電磁場における量子真空の複屈折と二色性を評価する可能性を有する。【JST・京大機械翻訳】

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, 【Automatic Indexing@JST】

非線形光学 , X線技術

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