4.0~4.6GeVの重心エネルギーでのデータサンプルのためのBESIIIにおける統合光度の測定【JST・京大機械翻訳】

BESIII Collaboration; Ablikim M.; Achasov M. N.; Adlarson P.; Albrecht M.; Aliberti R.; Amoroso A.; An M. R.; An Q.; Bai X. H.; Bai Y.; Bakina O.; Ferroli R. Baldini; Balossino I.; Ban Y.; Batozskaya V.; Becker D.; Begzsuren K.; Berger N.; Bertani M.; Bettoni D.; Bianchi F.; Bloms J.; Bortone A.; Boyko I.; Briere R. A.; Brueggemann A.; Cai H.; Cai X.; Calcaterra A.; Cao G. F.; Cao N.; Cetin S. A.; Chang J. F.; Chang W. L.; Chelkov G.; Chen C.; Chen G.; Chen H. S.; Chen M. L.; Chen S. J.; Chen T.; Chen X. R.; Chen X. T.; Chen Y. B.; Chen Z. J.; Cheng W. S.; Chu X.; Cibinetto G.; Cossio F.; Cui J. J.; Dai H. L.; Dai J. P.; Dbeyssi A.; de Boer R. E.; Dedovich D.; Deng Z. Y.; Denig A.; Denysenko I.; Destefanis M.; De Mori F.; Ding Y.; Dong J.; Dong L. Y.; Dong M. Y.; Dong X.; Du S. X.; Egorov P.; Fan Y. L.; Fang J.; Fang S. S.; Fang Y.; Farinelli R.; Fava L.; Feldbauer F.; Felici G.; Feng C. Q.; Feng J. H.; Fischer K; Fritsch M.; Fritzsch C.; Fu C. D.; Gao H.; Gao Y. N.; Gao Yang; Garbolino S.; Garzia I.; Ge P. T.; Ge Z. W.; Geng C.; Gersabeck E. M.; Gilman A; Gong L.; Gong W. X.; Gradl W.; Greco M.; Gu L. M.; Gu M. H.; Gu Y. T.; Guan C. Y; Guo A. Q.; Guo L. B.; Guo R. P.; Guo Y. P.; Guskov A.; Han T. T.; Han W. Y.; Hao X. Q.; Harris F. A.; He K. K.; He K. L.; Heinsius F. H.; Heinz C. H.; Heng Y. K.; Herold C.; Holtmann T.; Hou G. Y.; Hou Y. R.; Hou Z. L.; Hu H. M.; Hu J. F.; Hu T.; Hu Y.; Huang G. S.; Huang K. X.; Huang L. Q.; Huang L. Q.; Huang X. T.; Huang Y. P.; Huang Z.; Hussain T.; Huesken N; Imoehl W.; Irshad M.; Jackson J.; Jaeger S.; Janchiv S.; Ji Q.; Ji Q. P.; Ji X. B.; Ji X. L.; Ji Y. Y.; Jia Z. K.; Jiang H. B.; Jiang S. S.; Jiang X. S.; Jiang Y.; Jiao J. B.; Jiao Z.; Jin S.; Jin Y.; Jing M. Q.; Johansson T.; Kalantar-Nayestanaki N.; Kang X. S.; Kappert R.; Kavatsyuk M.; Ke B. C.; Keshk I. K.; Khoukaz A.; Kiese P.; Kiuchi R.; Koch L.; Kolcu O. B.; Kopf B.; Kuemmel M.; Kuessner M.; Kupsc A.; Kuehn W.; Lane J. J.; Lange J. S.; Larin P.; Lavania A.; Lavezzi L.; Lei Z. H.; Leithoff H.; Lellmann M.; Lenz T.; Li C.; Li C.; Li C. H.; Li Cheng; Li D. M.; Li F.; Li G.; Li H.; Li H.; Li H. B.; Li H. J.; Li H. N.; Li J. Q.; Li J. S.; Li J. W.; Li Ke; Li L. J; Li L. K.; Li Lei; Li M. H.; Li P. R.; Li S. X.; Li S. Y.; Li T.; Li W. D.; Li W. G.; Li X. H.; Li X. L.; Li Xiaoyu; Liang H.; Liang H.; Liang H.; Liang Y. F.; Liang Y. T.; Liao G. R.; Liao L. Z.; Libby J.; Limphirat A.; Lin C. X.; Lin D. X.; Lin T.; Liu B. J.; Liu C. X.; Liu D.; Liu F. H.; Liu Fang; Liu Feng; Liu G. M.; Liu H.; Liu H. B.; Liu H. M.; Liu Huanhuan; Liu Huihui; Liu J. B.; Liu J. L.; Liu J. Y.; Liu K.; Liu K. Y.; Liu Ke; Liu L.; Liu M. H.; Liu P. L.; Liu Q.; Liu S. B.; Liu T.; Liu W. K.; Liu W. M.; Liu X.; Liu Y.; Liu Y. B.; Liu Z. A.; Liu Z. Q.; Lou X. C.; Lu F. X.; Lu H. J.; Lu J. G.; Lu X. L.; Lu Y.; Lu Y. P.; Lu Z. H.; Luo C. L.; Luo M. X.; Luo T.; Luo X. L.; Lyu X. R.; Lyu Y. F.; Ma F. C.; Ma H. L.; Ma L. L.; Ma M. M.; Ma Q. M.; Ma R. Q.; Ma R. T.; Ma X. Y.; Ma Y.; Maas F. E.; Maggiora M.; Maldaner S.; Malde S.; Malik Q. A.; Mangoni A.; Mao Y. J.; Mao Z. P.; Marcello S.; Meng Z. X.; Messchendorp J. G.; Mezzadri G.; Miao H.; Min T. J.; Mitchell R. E.; Mo X. H.; Muchnoi N. Yu.; Muramatsu H.; Nefedov Y.; Nerling F.; Nikolaev I. B.; Ning Z.; Nisar S.; Niu Y.; Olsen S. L.; Ouyang Q.; Pacetti S.; Pan X.; Pan Y.; Pathak A.; Pathak A.; Pelizaeus M.; Peng H. P.; Pettersson J.; Ping J. L.; Ping R. G.; Plura S.; Pogodin S.; Poling R.; Prasad V.; Qi H.; Qi H. R.; Qi M.; Qi T. Y.; Qian S.; Qian W. B.; Qian Z.; Qiao C. F.; Qin J. J.; Qin L. Q.; Qin X. P.; Qin X. S.; Qin Z. H.; Qiu J. F.; Qu S. Q.; Qu S. Q.; Rashid K. H.; Redmer C. F.; Ren K. J.; Rivetti A.; Rodin V.; Rolo M.; Rong G.; Rosner Ch.; Ruan S. N.; Sang H. S.; Sarantsev A.; Schelhaas Y.; Schnier C.; Schoenning K.; Scodeggio M.; Shan K. Y.; Shan W.; Shan X. Y.; Shangguan J. F.; Shao L. G.; Shao M.; Shen C. P.; Shen H. F.; Shen X. Y.; Shi B. -A.; Shi H. C.; Shi R. S.; Shi X.; Shi X. D; Song J. J.; Song W. M.; Song Y. X.; Sosio S.; Spataro S.; Stieler F.; Su K. X.; Su P. P.; Su Y. -J.; Sun G. X.; Sun H.; Sun H. K.; Sun J. F.; Sun L.; Sun S. S.; Sun T.; Sun W. Y.; Sun X; Sun Y. J.; Sun Y. Z.; Sun Z. T.; Tan Y. H.; Tan Y. X.; Tang C. J.; Tang G. Y.; Tang J.; Tao L. Y; Tao Q. T.; Teng J. X.; Thoren V.; Tian W. H.; Tian Y.; Uman I.; Wang B.; Wang B. L.; Wang C. W.; Wang D. Y.; Wang F.; Wang H. J.; Wang H. P.; Wang K.; Wang L. L.; Wang M.; Wang M. Z.; Wang Meng; Wang S.; Wang S.; Wang T.; Wang T. J.; Wang W.; Wang W. H.; Wang W. P.; Wang X.; Wang X. F.; Wang X. L.; Wang Y. D.; Wang Y. F.; Wang Y. H.; Wang Y. Q.; Wang Z.; Wang Z. Y.; Wang Ziyi; Wei D. H.; Weidner F.; Wen S. P.; White D. J.; Wiedner U.; Wilkinson G.; Wolke M.; Wollenberg L.; Wu J. F.; Wu L. H.; Wu L. J.; Wu X.; Wu X. H.; Wu Y.; Wu Z.; Xia L.; Xiang T.; Xiao D.; Xiao G. Y.; Xiao H.; Xiao S. Y.; Xiao Y. L.; Xiao Z. J.; Xie C.; Xie X. H.; Xie Y.; Xie Y. G.; Xie Y. H.; Xie Z. P.; Xing T. Y.; Xu C. F.; Xu C. J.; Xu G. F.; Xu H. Y.; Xu Q. J.; Xu S. Y.; Xu X. P.; Xu Y. C.; Xu Z. P.; Yan F.; Yan L.; Yan W. B.; Yan W. C.; Yang H. J.; Yang H. L.; Yang H. X.; Yang L.; Yang S. L.; Yang Y. F.; Yang Y. X.; Yang Yifan; Ye M.; Ye M. H.; Yin J. H.; You Z. Y.; Yu B. X.; Yu C. X.; Yu G.; Yu T.; Yuan C. Z.; Yuan L.; Yuan S. C.; Yuan X. Q.; Yuan Y.; Yuan Z. Y.; Yue C. X.; Zafar A. A.; Zeng F. R.; Zeng X. Zeng; Zeng Y.; Zhan Y. H.; Zhang A. Q.; Zhang B. L.; Zhang B. X.; Zhang D. H.; Zhang G. Y.; Zhang H.; Zhang H. H.; Zhang H. H.; Zhang H. Y.; Zhang J. L.; Zhang J. Q.; Zhang J. W.; Zhang J. X.; Zhang J. Y.; Zhang J. Z.; Zhang Jianyu; Zhang Jiawei; Zhang L. M.; Zhang L. Q.; Zhang Lei; Zhang P.; Zhang Q. Y.; Zhang Shulei; Zhang X. D.; Zhang X. M.; Zhang X. Y.; Zhang X. Y.; Zhang Y.; Zhang Y. T.; Zhang Y. H.; Zhang Yan; Zhang Yao; Zhang Z. H.; Zhang Z. Y.; Zhang Z. Y.; Zhao G.; Zhao J.; Zhao J. Y.; Zhao J. Z.; Zhao Lei; Zhao Ling; Zhao M. G.; Zhao Q.; Zhao S. J.; Zhao Y. B.; Zhao Y. X.; Zhao Z. G.; Zhemchugov A.; Zheng B.; Zheng J. P.; Zheng Y. H.; Zhong B.; Zhong C.; Zhong X.; Zhou H.; Zhou L. P.; Zhou X.; Zhou X. K.; Zhou X. R.; Zhou X. Y.; Zhou Y. Z.; Zhu J.; Zhu K.; Zhu K. J.; Zhu L. X.; Zhu S. H.; Zhu S. Q.; Zhu T. J.; Zhu W. J.; Zhu Y. C.; Zhu Z. A.; Zou B. S.; Zou J. H.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202220210399822 整理番号：22P0299783

4.0~4.6GeVの重心エネルギーでのデータサンプルのためのBESIIIにおける統合光度の測定【JST・京大機械翻訳】

Measurement of integrated luminosities at BESIII for data samples at center-of-mass energies between 4.0 and 4.6 GeV

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで

この文献はプレプリントです。プレプリントについてはこちらをご確認ください。

著者 (564件)： , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , ,
資料名：
発行年： 2022年03月07日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年11月27日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

4.19と4.28GeVの間の中心質量エネルギーで2016~2017年にBESIII実験で収集したデータサンプルの統合輝度を,大きな角度Bhabha散乱事象を分析することによって1%より良い精度で測定する。2010~2014年に収集した古いデータセットの統合輝度は,検出器性能に関連する補正を考慮することによって更新され,ハプ危険に起こる電磁カロリメータにおける新たに発見された読出し誤差の影響を相殺する。【JST・京大機械翻訳】

, , , , , , , ,
, , , , 【Automatic Indexing@JST】

電子と陽電子の衝突によるハドロンの生成 , 強い相互作用の模型

, , , ,

前のページに戻る