ナノメートル集束のためのX線多層Laueレンズの光線追跡解析【JST・京大機械翻訳】

Chapman Henry N.; Bajt Sasa

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202220366881330 整理番号：22P0153345

ナノメートル集束のためのX線多層Laueレンズの光線追跡解析【JST・京大機械翻訳】

A ray-trace analysis of X-ray multilayer Laue lenses for nanometer focusing

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発行年： 2020年05月30日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2020年05月30日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

厚い回折光学素子は,約0.1nmより短いX線波長に対して1nmに近い分解能で集束またはイメージングを達成する有望な方法を提供する。効率的な集束は,光線が全レンズ開口にわたってBragg則に従い,焦点で建設的干渉を生じさせるように,周期と方位で変化する構造で作られることを必要とする。ここでは,厚い回折光学素子の光線追跡の解析法を,そのようなレンズに適用して,それらの設計を最適化し,それらの操作および製造許容度を調べた。表現は,円筒レンズのような1次元のみに焦点を合わせた交差レンズの軸対称レンズと対の両方の波面収差と透過の4次級数展開を提供した。収差が大きな視野で補正されるプラナティックゾーンプレート設計が,交差レンズではなく軸対称レンズによって達成できることを見出した。焦点距離が約1mmの1nm分解能レンズの性能を調べ,それらの視野はBragg回折の受容角により主に制限され,収差は焦点距離が長いレンズの性能を制限することを示した。不完全レンズのトレランシング解析に対する光線追跡形式を適用し,それらの収差補正のためのいくつかの戦略を検討した。【JST・京大機械翻訳】

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光デバイス一般

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