回帰による遺伝的関連試験の統一:前向きおよび後ろ向き,パラメトリックおよび非パラメトリック,遺伝子型および対立遺伝子ベース試験【JST・京大機械翻訳】

Zhang, L.; Sun, L.

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202220425631386 整理番号：22P0326220

回帰による遺伝的関連試験の統一:前向きおよび後ろ向き,パラメトリックおよび非パラメトリック,遺伝子型および対立遺伝子ベース試験【JST・京大機械翻訳】

Unifying genetic association tests via regression: Prospective and retrospective, parametric and non-parametric, and genotype- and allele-based tests

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発行年： 2022年04月02日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年04月02日
JST資料番号： O7001B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

遺伝的マーカーと複雑で遺伝性形質間の関係を評価する遺伝的関連解析はゲノムワイド関連研究の基盤である。応答において,多くの関連試験が開発され,それらは一般に前向き対遡及的,パラメトリック対ノンパラメトリック,および遺伝子型対対立遺伝子ベースの関連試験として分類されている。手法分類は有用であるが,実務者にとって,それらのデータに使用する最適試験を決定するのは,混乱し,挑戦的である。ポピュラーな関連試験の幾つかの間に知られている違いがあるが,著者らは,集団および家族ベースの研究設計の両方に対する異なる試験間の解析的接続を示す新しい結果を提供した。ResmeInserer votre resume ici.著者らは,自分自身を準備することができるそれらの著者のためにフランスの抽象を提供した。【JST・京大機械翻訳】

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人工知能 , 遺伝学研究法

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