二次元浅い回路における測定誘起エンタングルメント遷移【JST・京大機械翻訳】

Liu Hanchen; Zhou Tianci; Chen Xiao

プレプリント

J-GLOBAL ID：202202221340794738 整理番号：22P0304160

二次元浅い回路における測定誘起エンタングルメント遷移【JST・京大機械翻訳】

Measurement induced entanglement transition in two dimensional shallow circuit

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで

この文献はプレプリントです。プレプリントについてはこちらをご確認ください。

著者 (3件)： , ,
資料名：
発行年： 2022年03月14日プレプリントサーバーでの情報更新日： 2022年03月14日
JST資料番号： O7000B 資料種別：プレプリント
記事区分：プレプリント発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

※このプレプリント論文は学術誌に掲載済みです。なお、学術誌掲載の際には一部内容が変更されている可能性があります。

(1)二量子ビットCZゲートの1層または(2)二量子ビットランダムCliffordゲートの少数の層から成る浅い回路によって生成された二次元状態を調製した。バルク量子ビットの全てを測定した後,一次元境界上の残りの量子ビットのからみ合構造を研究した。最初のモデルでは,バルクXとZ測定間の競合が,もつれた体積則相ともつれた領域法則相の間のからみ合相転移を導くことができることを観察した。臨界指数を数値的に評価し,2より大きい局所Hilbert空間次元を持つ他のquditシステムに対するこのアイデアを一般化した。第2のモデルでは,各層における2量子ビットゲートの密度を変えることによって,エンタングルメント遷移を観測した。ランダムHaarゲートから成る類似の浅い回路におけるランダム結合Isingモデルに関するこの遷移の解釈を与えた。【JST・京大機械翻訳】

, , , , , , , , ,
, , 【Automatic Indexing@JST】

量子力学一般

, ,

前のページに戻る