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J-GLOBAL ID:202202225333501622   整理番号:22A1149136

高出力パルスマグネトロンスパッタリングにおけるリフレクトロン型飛行時間質量分析計を用いたプラズマ診断法の開発

Development of a Plasma Diagnostic Method for High Power Pulsed Magnetron Sputtering Using a Reflectron-Type Time-of-Flight Mass Spectrometer
著者 (3件):
資料名:
巻: 70  号:ページ: 30-35(J-STAGE)  発行年: 2022年 
JST資料番号: G0046A  ISSN: 1340-8097  CODEN: JMSJEY  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・高出力パルスマグネトロンスパッタリングHPPMSを説明,HPPMS精密制御にはスパッタ粒子とイオンの生成をモニタするプラズマ診断法が不可欠。
・HPPMSのプラズマ診断法として,標準的な質量分析法,飛行時間質量分析法の適用と応用展開を解説,スパッタ粒子の生成過程と熱的な粒子輸送過程の情報観測。
・・PPMSno研究例,TiターゲットのMPPMSに対する飛行時間質量スペクトルの結果報告,プラズマ内の生成イオン種の時間変化を調査,成膜制御を期待。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
プラズマ診断  ,  質量スペクトル(分子) 
引用文献 (36件):
  • 1) D. M. Mattox, “Handbook of Physical Vapor Deposition(PVD)Processing 2nd Ed.,” William Andrew, Norwich(2010).
  • 2) W. D. Sproul, Surf. Coat. Technol., 81, 1(1996).
  • 3) P. J. Kelly and R. D. Arnell, Vacuum, 56, 159(2000).
  • 4) S. Schiller, K. Goedicke, J. Reschke, V. Kirchhoff, S. Schneider, and F. Milde, Surf. Coat. Technol., 61, 331(1993).
  • 5) J. T. Gudmundsson, N. Brenning, D. Lundin, and U. Helmersson, J. Vac. Sci. Technol., A 30, 030801(2012).
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