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J-GLOBAL ID：202202227254136694   整理番号：22A1043495

位相減衰双対性による低X線エネルギーでの信頼性のある材料特性評価【JST・京大機械翻訳】

Reliable material characterization at low x-ray energy through the phase-attenuation duality

著者 (5件)： Buchanan I. (Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom) ,  Astolfo A. (Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom) ,  Endrizzi M. (Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom) ,  Bate D. (Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom) ,  Olivo A. (Department of Medical Physics and Biomedical Engineering, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, United Kingdom)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 120  号： 12  ページ： 124102-124102-6  発行年： 2022年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 材料を特性化するために用いた2つの多色X線イメージング技術の比較,即ち,二重エネルギー(DE)減衰と位相減衰(PA),後者は走査ベースEdge照明システムを介して実行される。Azevedo et al.IEEE Transによって開発された電子密度と有効原子数を抽出するためのシステム独立法。Nucl.Sci.63,341(2016)-SIRZを平面画像の解析に使用し,両手法で同じ方法論を用いた。PAは低エネルギーX線スペクトル(40kVp)で信頼性が高く,従来のDEは測定に用いたエネルギーの不十分な分離により破壊され,高エネルギー(120kVp)で実行される「標準」DEに匹敵する結果を生成し,従って,高いX線エネルギーの使用が非現実的である応用の貴重な代替法を提供することを示した。Copyright 2022 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *X線 ,  X線スペクトル ,  *双対性 ,  電子密度 ,  *信頼性 ,  照明設備 ,  *位相 ,  X線画像 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： 低エネルギー ,  二次元画像 ,  高エネルギー ,  原子数 ,  *材料特性評価 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

タイトルに関連する用語 (6件)： 位相 ,  減衰 ,  双対性 ,  X線 ,  エネルギー ,  材料特性評価