文献
J-GLOBAL ID:202202228720416499   整理番号:22A0984333

マイクロエレクトロニクスパッケージにおけるはんだ接合品質の評価におけるレーザ超音波検査データと有限要素モデリング結果の間の相関研究【JST・京大機械翻訳】

Correlation Studies Between Laser Ultrasonic Inspection Data and Finite-Element Modeling Results in Evaluation of Solder Joint Quality in Microelectronic Packages
著者 (4件):
資料名:
巻: 144  号:ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: T0929A  ISSN: 1043-7398  CODEN: JEPAE4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
レーザ超音波検査(LUI)は,領域アレイマイクロエレクトロニクスパッケージにおけるはんだボール相互接続の品質を評価する非破壊で非接触技術である。チップスケールパッケージ,ボールグリッドアレイパッケージ,フリップチップボールグリッドアレイパッケージにおける欠陥と故障を識別するため,二重自由アレイレーザ超音波検査システムを実証した。パッケージの欠陥と故障の位置と重症度をこのシステムを用いて正確に同定した。さらに,LUI結果と故障モード解析に対する故障の厳しさの間の相関を確立することは重要であり,破壊試験の必要性を排除し,連続信頼性試験の下での与えられた試料中の破壊進展の研究を可能にする。本論文では,熱サイクル信頼性試験を受けたフリップチップボールグリッドアレイパッケージからの実験的LUI結果と有限要素シミュレーション結果の間の相関研究を論じた。相関式は,LUI結果に基づく与えられた数の熱サイクルにおける故障の重症度の予測を助けるであろう。さらに,マイクロエレクトロニクスパッケージの寿命を,LUIの結果から,数少ない熱サイクルで正確に予測できた。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  固体デバイス材料 

前のページに戻る