Reddy Vishnu V. B. について
Customer Platform Technology Development, Intel Corporation, HF1, 5200 NE Elam Young Pkwy, Hillsboro, OR 97124 について
Gupta Saurabh について
Logic Technology Development, Intel Corporation, 2501 NE Century Blvd., Hillsboro, OR 97124 について
Williamson Jaimal について
WW Semiconductor (SC) Packaging, Texas Instruments Inc., 12500 TI Blvd., Dallas, TX 75243 について
Sitaraman Suresh K. について
George W. Woodruff School of Mechanical Engineering, 813 Ferst Drive, GTMI, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332 について
Journal of Electronic Packaging について
計算機シミュレーション について
熱サイクル について
研究 について
はんだ付 について
信頼性試験 について
相互接続 について
モデリング について
破壊試験 について
マイクロエレクトロニクス について
故障モード について
CSPパッケージ について
BGAパッケージ について
はんだバンプ について
有限要素モデリング について
有限要素 について
有限要素シミュレーション について
フリップチップBGA について
レーザ超音波検査 について
マイクロエレクトロニクスパッケージング検査 について
熱サイクル信頼性試験 について
有限要素損傷計量 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
固体デバイス材料 について
マイクロエレクトロニクス について
パッケージ について
はんだ接合 について
評価 について
レーザ超音波 について
検査データ について
有限要素モデリング について
相関 について
研究 について