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J-GLOBAL ID：202202229878231649   整理番号：22A0856773

BCZTセラミックの電気的性質と誘電緩和挙動に及ぼすLiとYの共ドーピングの影響【JST・京大機械翻訳】

Effects of Li and Y co-doping on electrical properties and dielectric relaxation behavior of BCZT ceramics

著者 (4件)： Wang Chang-Qun (College of Materials and Metallurgy, Guizhou University, Guiyang, Guizhou, China) ,  Shu Chun (College of Materials and Metallurgy, Guizhou University, Guiyang, Guizhou, China) ,  Zheng De-Yi (College of Materials and Metallurgy, Guizhou University, Guiyang, Guizhou, China) ,  Luo Shun (College of Materials and Metallurgy, Guizhou University, Guiyang, Guizhou, China)
資料名： Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻： 33  号： 7  ページ： 3822-3834  発行年： 2022年 
JST資料番号： W0003A  ISSN： 0957-4522  CODEN： JMTSAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： BCZTセラミックに及ぼすLiとY(Li/Y)共ドーピングの効果を研究するために,鉛フリー(Ba_0.85Ca_0.15)(Ti_0.9Zr_0.1)+xLi_2CO_3+xY_2O_3(BCZT-Li_xY_x,x=0,0.1,0.2,0.3,および0.4mol%)圧電セラミックを従来の固相焼結法により合成した。セラミックサンプルの相構造と微細構造をXRDとSEMによって研究した。セラミック試料の電気的性質を,圧電,誘電,および強誘電体試験装置によって研究した。XRDスペクトルはセラミック試料がペロブスカイト構造を有することを示した。SEM画像は,BCZTセラミックにおけるLi/Yの導入が粒成長と緻密化を促進できることを示した。温度依存誘電性能試験結果から,BCZT-Li_xY_xセラミック試料は明らかな誘電緩和挙動を有することが分かった。さらに,BCZTセラミック中のLi/Y共ドーピングは焼結温度を1540°Cから1400°Cに効果的に減少させ,電気的性質を改善した。最適電気特性はx=0.3mol%(d_33=526pC/N,k_p=58%,ε_r=4724,tanδ=0.017,T_c=75.5°C,γ=1.63,P_r=9.73μC/cm2,E_c=2.10kV/cm)で得られた。Copyright The Author(s), under exclusive licence to Springer Science+Business Media, LLC, part of Springer Nature 2022 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  強誘電体 ,  結晶成長 ,  *セラミック ,  *誘電緩和 ,  *リチウム ,  X線回折分析 ,  圧電気 ,  緻密化 ,  温度依存性 ,  *ドーピング ,  スペクトル ,  電気特性 ,  損失正接 ,  圧電セラミック
準シソーラス用語： *共ドーピング ,  焼結温度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (6件)： セラミック ,  電気的性質 ,  誘電緩和 ,  挙動 ,  Li ,  共ドーピング