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J-GLOBAL ID：202202230819078549   整理番号：22A1078055

層構造媒質の後方散乱解析における音場特性と減衰補正精度の関係性

Relationship between sound field characteristics and attenuation correction accuracy in backscattering analysis of layered structure

著者 (8件)： 沓沢駿人 (千葉大 工) ,  西東若菜 (千葉大 大学院) ,  八木風音 (千葉大 大学院) ,  大村眞朗 (富山大 工) ,  大村眞朗 (千葉大 CFME) ,  平田慎之介 (千葉大 CFME) ,  吉田憲司 (千葉大 CFME) ,  山口匡 (千葉大 CFME)
資料名： 日本音響学会研究発表会講演論文集(CD-ROM)  (日本音響学会講演論文集(CD-ROM))
巻： 2022  号： 春季  ページ： ROMBUNNO.3-7P-5  発行年： 2022年02月23日 
JST資料番号： G0381C  ISSN： 1880-7658  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・本報告では,臨床用のリニアアレイプローブを使用。
・上層に...

シソーラス用語： *後方散乱 ,...
準シソーラス用語： 層構造媒質

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分類 (2件)： 生体計測  (EL03020C) ,  音響信号処理  (BB03050C)

引用文献 (3件)：

• Roman Kuc, Mischa Schwartz. IEEE Trans. Ultrason., Vol. SU-26, No. 5, 1979.
• L. X. Yao et al., Ultrason. Imaging, 12 (1), 1990.
• J. J. Faran, Acoust. Soc. Am., 23 (4), 1951.

タイトルに関連する用語 (6件)： 層構造媒質 ,  後方散乱 ,  解析 ,  音場 ,  減衰補正 ,  関係性