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J-GLOBAL ID:202202232288953928   整理番号:22A1046147

ナノ構造表面を有するシリコンのRaman分光法【JST・京大機械翻訳】

Raman spectroscopy of silicon with nanostructured surface
著者 (11件):
資料名:
巻: 257  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: D0251A  ISSN: 0030-4026  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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Si基板対単結晶Siのナノスケール形状表面の形態とRaman応答を比較した。試料は反応性イオンエッチングによって構造化され,それらの4つはRuO_2-IrO_2層によって覆われた。Si表面をエッチングして処理した試料に属する約520cm-1のRamanバンドは,参照非エッチング試料よりも約1桁高い強度を有した。ナノ構造サンプルでは,Raman信号の上昇は12~14×であり,その形状によるSiの先端での電場のモデルと一致した。この現象は励起放射の高い吸収に関係する。RuO_2-IrO_2の層を含む試料のナノ構造表面は,シリコンと導電性酸化物の間の界面での電荷移動によるRaman応答の表面増強の現象を引き起こす。金属層のないSiのナノ構造表面はSERS基板として挙動し,低濃度で分析物を検出する。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
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半導体薄膜  ,  その他の光伝送素子  ,  太陽電池 
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