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J-GLOBAL ID：202202235590331104   整理番号：22A0562605

マイクロディスプレイのための正に注目できない歪モデルに基づく動的偽輪郭評価法【JST・京大機械翻訳】

Dynamic false contour evaluation method based on just noticeable distortion model for microdisplays

著者 (7件)： Chen Wendong (School of Mechatronic Engineering and Automation, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China) ,  Ji Yuan (School of Mechatronic Engineering and Automation, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China) ,  Ji Yuan (Microelectronic Research and Development Center, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China) ,  Zhang Kaiwen (Microelectronic Research and Development Center, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China) ,  Mu Tingzhou (School of Mechatronic Engineering and Automation, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China) ,  Ran Feng (School of Mechatronic Engineering and Automation, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China) ,  Ran Feng (Microelectronic Research and Development Center, Shanghai University, No. 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China)
資料名： Displays  (Displays)
巻： 71  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0042B  ISSN： 0141-9382  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： デジタル駆動マイクロディスプレイの動的偽輪郭現象は,移動画像を表示するとき,表示品質に深刻に影響する。動的偽輪郭の生成メカニズムを解析し,人間の眼の視覚特性を考慮して,本論文は,異なる走査戦略の動的偽輪郭レベルを定量化するための,ちょうど注目すべき歪み積分法を提案した。一連の実験を行い,提案した評価法の信頼性を検証した。線形パルス幅変調走査方式とサブフレーム走査方式を結合して,集中サブフレーム走査法を提案し,動的偽輪郭現象を軽減した。システム検証プラットフォームを1280×1024の分解能でシリコンベースのOLEDマイクロディスプレイ上で実行した。集中型サブフレームスキャン法のパラメータKが4未満であるとき,画像データセットの平均ピーク信号対雑音比は35dB以上であり,表示効果は元の画像に近い。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 信頼性 ,  ケイ素 ,  分解能 ,  PWM【信号】 ,  画像 ,  線形性 ,  *表示装置 ,  ディジタル方式 ,  *輪郭
準シソーラス用語： 生成機構 ,  画像データ ,  *マイクロディスプレイ ,  システム検証 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： JND積分法 ,  集中化サブフレームスキャン法 ,  動的偽輪郭

分類 (1件)： 表示機器  (NC06030Q)

タイトルに関連する用語 (6件)： マイクロディスプレイ ,  注目 ,  歪 ,  モデル ,  輪郭 ,  評価法